ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍?zhuān)铀匐妷涸?/span>1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，可同時(shí)搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺(tái)，滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無(wú)須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟；

亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng)，自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;

抽真空時(shí)間小于90秒；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

信號(hào)采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品，操作流暢，無(wú)卡頓；

四分割背散射電子探測(cè)器（多種成像模式）、二次電子探測(cè)器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷(xiāo)售、售后一體化服務(wù)；

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；

品牌：澤攸科技

型號(hào)：ZEM15

加速電壓：1-15kV連續(xù)可調(diào)

探測(cè)器種類(lèi)：二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、能譜儀

放大倍數(shù)：150000x

元素分析范圍：B5 - Cf98

能譜儀參數(shù)

集成 Oxford Xplore Compact 30 能譜分析系統(tǒng)SuperATW 窗口 30mm2面積活區(qū)

分辨率優(yōu)于129eV（MnKα處）無(wú)需液氮冷卻

分析元素范圍：B5 - Cf98

點(diǎn)、線(xiàn)、面掃描分析

全中文軟件操作界面（中英文切換功能）